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模塊芯片冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱是一種專門設(shè)計(jì)用于測(cè)試電子模塊、芯片及其組件在溫度變化和冷熱沖擊環(huán)境下的可靠性和耐久性的實(shí)驗(yàn)設(shè)備。隨著電子產(chǎn)品向更高性能、更小體積發(fā)展...
快速升降溫高低溫濕熱試驗(yàn)箱是一種專門用于測(cè)試材料、電子元件或產(chǎn)品在短時(shí)間內(nèi)經(jīng)歷高低溫變化及濕度變化對(duì)其性能影響的環(huán)境測(cè)試設(shè)備。與傳統(tǒng)的高低溫濕熱試驗(yàn)箱不同,快速...
定制尺寸三綜合振動(dòng)試驗(yàn)箱 是一種根據(jù)客戶需求定制的設(shè)備,主要用于同時(shí)模擬和測(cè)試產(chǎn)品在不同溫濕度條件下受到振動(dòng)影響的環(huán)境條件。與標(biāo)準(zhǔn)尺寸試驗(yàn)箱相比,定制尺寸試驗(yàn)箱...
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