當(dāng)前位置：上海納騰儀器有限公司>>Vista-IR 高分辨納米紅外成像與光譜系統(tǒng)>>Vista-IR 高分辨納米紅外成像與光譜系統(tǒng)

Vista-IR 高分辨納米紅外成像與光譜系統(tǒng)

返回列表頁

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號Vista-IR

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地上海

在線詢價(jià) 收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

農(nóng)機(jī)網(wǎng)采購部電話：0571-88918531QQ:2568841715

聯(lián)系方式：查看聯(lián)系方式

更新時(shí)間：2025-01-12 13:13:08瀏覽次數(shù)：35次

聯(lián)系我時(shí)，請告知來自農(nóng)機(jī)網(wǎng)

產(chǎn)品分類 品牌分類

  MPI Titan射頻配件
  內(nèi)應(yīng)力檢測儀
  激光制樣
  ezAFM-便攜式原子力顯微鏡
  半自動(dòng)晶圓鍵合儀
  原子層沉積系統(tǒng)ALD產(chǎn)品
  高溫3D打印機(jī)
  方塊電阻測試儀
  S100型數(shù)字源表
  CLONE雙模式等離子刻蝕機(jī)清洗機(jī)
  液體顆粒度儀
  Desk V 薄膜沉積解決方案
  BenchTop Turbo熱蒸發(fā)和樣品制備
  Desktop Pro薄膜沉積-磁控濺射
  DV-502 熱蒸發(fā)薄膜沉積
  Explorer 電子束、磁控、熱蒸發(fā) 薄膜沉積
  無掩膜激光直寫
  Novascan紫外臭氧清洗儀
  Leica DCM 3D 三維測量顯微鏡
  金相顯微鏡
  Leica DM2500M正置金相顯微鏡
  Leica DVM2500 徠卡數(shù)字顯微鏡
  多功能無掩膜激光直寫
  SERS芯片基底
  陰極熒光成像光譜探測系統(tǒng)
  Minitom切割設(shè)備
  AFM校準(zhǔn)標(biāo)樣
  GGB微波探針
  Quantifoil多孔載網(wǎng)
  GGB校準(zhǔn)標(biāo)樣
  離子束刻蝕/沉積系統(tǒng)
  AFM基底
  TS150-HP 高功率探針臺(tái)
  Scanwave 掃描微波近場阻抗顯微鏡
  MVI散射式掃描近場光學(xué)顯微鏡
  TS150 6寸手動(dòng)探針臺(tái)
  4200A-SCS參數(shù)分析儀
  F40顯微膜厚測量儀
  Zeta20 多模式三維光學(xué)輪廓儀
  原位納米壓痕儀
  EM-AFM 電鏡原位原子力顯微鏡
  Nano observer 電學(xué)原子力顯微鏡
  NX-3DM 可旋轉(zhuǎn)全自動(dòng)原子力顯微鏡
  NX-Wafer 全自動(dòng)晶圓檢測原子力顯微鏡
  P17 自動(dòng)晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀
  NX-HDM 全自動(dòng)缺陷檢測原子力顯微鏡
  NX-PTR 全自動(dòng)在線檢測原子力顯微鏡
  NX-Hivac 高真空原子力顯微鏡
  P170 全自動(dòng)晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀
  F50/F54 自動(dòng)膜厚測量儀
  MPI Titan射頻探針
  D300 經(jīng)濟(jì)型高精度臺(tái)階儀
  NX20 高精度全自動(dòng)大面積原子力顯微鏡
  VertiSense 掃描熱學(xué)顯微鏡
  XE-15 大樣品臺(tái)工業(yè)原子力顯微鏡
  D500 高精度臺(tái)階儀
  D600 高精度探針式輪廓儀/臺(tái)階儀
  Profilm 3D光學(xué)輪廓儀
  Nano Flip原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM
  iNano高精度臺(tái)式納米壓痕儀
  X2E系列數(shù)位可調(diào)干燥柜
  nGauge便攜式原子力顯微鏡
  NX10 高精度原子力顯微鏡
  P7 晶圓探針式輪廓儀/臺(tái)階儀
  LiteScope 電鏡原位多功能原子力顯微鏡
  XE-7 經(jīng)濟(jì)型原子力顯微鏡
  F20單點(diǎn)膜厚測量儀
  SPRm200 表面等離子共振顯微鏡
  iMicro高精度微納米壓痕儀
  電鏡原位偏壓加熱系統(tǒng)
  高精度電子束曝光系統(tǒng)
  MVI原子力顯微鏡與可見-紅外-拉曼聯(lián)用系統(tǒng)
  原位拉伸臺(tái)
  聚合物筆印刷
  原位TEM四自由度納米操縱樣品桿
  原位納米力學(xué)測試系統(tǒng)Nano Indenter® G200
  光譜型橢偏儀
  NX12 生物型原子力顯微鏡
  Zeta-388 自動(dòng)多模式光學(xué)輪廓儀
  TS200-HP 高功率探針臺(tái)
  Zeta-300 多模式光學(xué)輪廓儀
  TS2000-DP 高功率探針臺(tái)
  TS50手動(dòng)小型探針臺(tái)
  TS2500-RF 全自動(dòng)射頻探針臺(tái)
  F3 單點(diǎn)膜厚測試儀
  TS200 8寸手動(dòng)探針臺(tái)
  TS2000 自動(dòng)探針臺(tái)
  PA1000功率分析儀
  MTA02微力位移測試操縱系統(tǒng)
  TTR500系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）
  RSA5000系列頻譜分析儀
  高精度納米拉伸系統(tǒng)Nano UTM T150
  MDO34示波器
  原位AFM in SEM
  X1系列數(shù)位可調(diào)干燥柜
  脈沖激光沉積系統(tǒng)（PLD）
  主動(dòng)隔振臺(tái)AMT
  原位MEMS芯片和同步輻射Holder
  In-SEM HT高溫原位納米壓痕儀
  Duramin-4硬度計(jì)
  被動(dòng)隔振臺(tái)GWA-TM
  6英寸納米壓印機(jī)NIL-150
  Vista-IR 高分辨納米紅外成像與光譜系統(tǒng)
  F60 全自動(dòng)膜厚測試儀
  F30 在線膜厚測試儀
  柱狀模板
  徠卡多功能離子束研磨儀 Leica EM RES102
  徠卡自動(dòng)修塊拋光機(jī) Leica EM TXP
  納米壓印膠
  LABOTOM-5/-15切割設(shè)備
  AFM標(biāo)準(zhǔn)樣品
  CITOPRESS 鑲樣機(jī)
  CITOPRESS 熱室
  A15系列數(shù)位可調(diào)干燥柜
  拉曼增強(qiáng)試劑
  SEM 耗材
  高溫原位納米壓痕儀
  主動(dòng)隔振臺(tái)ARISTT
  主動(dòng)隔振臺(tái)ARISMD
  被動(dòng)隔振SOTOTT
  被動(dòng)隔振臺(tái)GWA-M
  被動(dòng)隔振臺(tái)GWA-TO
  主動(dòng)隔振臺(tái)PMT
  TS3000 自動(dòng)探針臺(tái)
  MicroXAM800 白光干涉儀
  TS300 12寸手動(dòng)探針臺(tái)
  3英寸納米壓印機(jī) NIL75
  Diener FEMTO等離子清洗機(jī)
  FT-NMT04納米力學(xué)性能測試系統(tǒng)
  ACCUTOM-10/-100切割設(shè)備
  EZ系列立體顯微鏡
  DM 4500P半自動(dòng)智能數(shù)字式偏光顯微鏡
  徠卡M系列立體顯微鏡LeicaM165FC/205FA
  S系列立體顯微鏡
  徠卡M系列立體顯微鏡LeicaM125/165C/205C/205A
  DM750P專業(yè)偏光顯微鏡
  Z系列立體顯微鏡Leica Z6 APO
  全手動(dòng)實(shí)驗(yàn)級倒置金相顯微鏡
  DVM 5000三維視頻顯微鏡
  DM 2500P全手動(dòng)式專業(yè)偏光顯微鏡
  Leica DM750M正立式顯微鏡
  CITOVAC
  定制型隔振系統(tǒng)
  TEM耗材
  徠卡高真空濺射鍍膜儀 Leica EM SCD500
  X射線圖
  EUV/X射線反光鏡
  X射線菲涅耳波帶板（FZP）
  光柵模板
  AFM探針
  MPI 射頻校準(zhǔn)基板
  GGB有源高阻抗針尖
  GGB直流探針
  孔狀模板
  棱鏡耦合儀
  Duramin-40硬度計(jì)
  4英寸納米壓印機(jī) NIL-100
  液體顆粒度儀-LPC
  ADR低溫恒溫干式mK系統(tǒng)
  膜厚測量儀
  Estable主動(dòng)隔振臺(tái)
  MTA03 綜合三維納米力學(xué)操縱系統(tǒng)
  BI-4500 高通量全自動(dòng)表面等離子共振儀
  BI-2500 臺(tái)式表面等離子共振儀
  Candela CS920表面缺陷檢測儀
  光學(xué)表面缺陷分析儀
  精密玻璃切割機(jī)(桌面型）
  徠卡室溫超薄切片機(jī) Leica EM UC7

暫無信息

上海納騰儀器有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：166條

所在地區(qū)：

詢價(jià) 給他留言

產(chǎn)品簡介

詳細(xì)介紹

傅立葉變化紅外光譜(Fourier Transform infrared spectroscopy, FTIR)廣泛應(yīng)用于各種化學(xué)分析，尤其是聚合物和有機(jī)化合物分析，為現(xiàn)代化學(xué)提供了重要的分析手段。然而常規(guī)的傅立葉紅外光譜儀由于受到光學(xué)衍射極限的限制，其空間分辨率也越來越無法滿足科研人員在納米尺度下對于樣品化學(xué)分析及成分鑒定。在這一背景下，美國Molecular Vista應(yīng)運(yùn)而生，推出了全新一代納米紅外成像與光譜系統(tǒng)Vista-IR！

Vista-IR納米紅外依托于原子力顯微鏡平臺(tái)，利用專用的光誘導(dǎo)力顯微鏡（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技術(shù)，結(jié)合波長可調(diào)的紅外光源，從而實(shí)現(xiàn)10nm以下空間分辨紅外成像與光譜采集，無需遠(yuǎn)場光學(xué)接收器及干涉儀。

Vista-IR納米紅外所采集的PiFM紅外光譜與標(biāo)準(zhǔn)FTIR光譜高度吻合，這使得科研人員可以將PiFM納米紅外光譜與FTIR紅外光譜圖庫中的數(shù)據(jù)進(jìn)行對比分析。

NanoIR 納米紅外成像與光譜案例

光誘導(dǎo)力顯微鏡突破性的采用檢測探針與樣品之間的偶極交互(dipole interaction)，使其不受到樣品橫向熱膨脹對于空間分辨率帶來的負(fù)面影響。因此，基于光誘導(dǎo)力顯微鏡的納米紅外能真正意義上的實(shí)現(xiàn)10nm以下空間分辨納米紅外成像！下圖PS-PMMA嵌段共聚物納米紅外成像與光譜案例，紅色和綠色分別代表PMMA與PS的分布情況。

基于光誘導(dǎo)力顯微鏡的納米紅外不僅適合有機(jī)高分子材料，也適合無機(jī)材料。下圖為不同Si/Al比的ZSM-5沸石分子篩的納米紅外骨架振動(dòng)峰在1100cm^-1處的藍(lán)移及劈裂情況，以及通過碳?xì)浠衔镌?480cm^-1的C=C伸縮振動(dòng)峰來反映ZSM-5參與甲醇制碳?xì)浠衔铮∕TH)催化反應(yīng)后結(jié)焦的分布情況。