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全自動三維形貌儀哪家好

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產品型號

品       牌

廠商性質其他

所  在  地國外

更新時間:2024-12-03 13:23:02瀏覽次數:155次

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雙模式三維形貌儀(三維成像)能夠在同一測試平臺上運行多種測試,產品的組合可根據不同的技術應用要求而改變。針對樣品的同一區(qū)域可進行不同模式的實驗檢測,模式切換可實現全自動化。多項技術的整合能夠使不同技術在同一檢測儀上充分發(fā)揮各自的優(yōu)勢。該項整合技術不僅有利于數據的綜合分析,也可以減少維護成本,從而提高效率。

三維形貌儀概述

Rtec 三維形貌儀在加利福尼亞硅谷制造。已被多個實驗室、大學和行業(yè)使用。UP系列在一個頭上組合了4種成像模式。能夠在同一測試平臺上運行多種測試只需單擊按鈕,就能轉換成像模式。這種組合可以輕松地對任何表面進行成像如透明、平坦、黑暗、扁平、彎曲的表面等。每種成像模式都具有各自的優(yōu)勢,并且各項技術彼此互補。該項整合技術不僅有利于數據的綜合分析,也可以減少維護成本,從而提高效率。


3D光學輪廓儀組合

白光干涉儀

旋轉盤共聚焦顯微鏡

暗視野顯微鏡

明視野顯微鏡


主要平臺規(guī)格

產品規(guī)格

標準電動平臺150x150mm(可選210x310mm)

標準轉塔,電動轉塔可選

垂直范圍可達100mm

傾斜階段6度

XY平臺分辨率0.1um

自動拼接楷模

Sigma頭 - 白光干涉儀

Lambda頭 - 白光干涉儀+共焦+暗場+明場

應用

粗糙度  ●體積磨損   ●臺階高度   薄膜厚度   形貌


測試圖像示例

       

        DLC涂層球                                 粗糙涂層表面                                     圓球磨斑

   

        金剛石                                         生物膜                                         微流體通道

     

聚合物涂層                                        墨痕                                               硬幣

 

研磨墊                                        鋁的失效痕跡                                    劃痕

涂層失效痕跡                                       芯片通道                                        晶圓

以上為雙模式三維表面輪廓儀拍出的樣品形貌。在同一平臺上結合使用多種光學技術,測試儀可以測量幾乎任何類型的nm分辨率樣品。該表面輪廓儀配有功能強大的分析軟件,符合多種標準。雙模式三維表面輪廓儀能夠在同一測試平臺上運行多種測試,產品的組合可根據不同的技術應用要求而改變。針對樣品的同一區(qū)域可進行不同模式的實驗檢測,模式切換可實現自動化。多項技術的整合能夠使不同技術在同一檢測儀上充分發(fā)揮各自的優(yōu)勢。該項整合技術不僅有利于數據的綜合分析,也可以減少維護成本,從而提高效率。









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